CRDR性能檢測(cè)模體

更新時(shí)間：2025-09-24

簡(jiǎn)要描述：

CRDR性能檢測(cè)模體工具箱*符合JJG 1078-2012醫(yī)用數(shù)字?jǐn)z影（CR、DR）系統(tǒng)X射線輻射源檢定規(guī)程的要求。

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供應(yīng)CRDR性能檢測(cè)模體
包含：CRDR性能檢測(cè)模體（可選），低對(duì)比度分辨力模體,0.1毫米鉛當(dāng)量分辨率測(cè)試卡,實(shí)時(shí)焦點(diǎn)測(cè)量?jī)x,
數(shù)字影像綜合測(cè)試卡,衰減模體,透射式黑白密度計(jì)。
備注：可根據(jù)自己的實(shí)際要求選配。包含：CR/DR性能檢測(cè)模體（可選），低對(duì)比度分辨力模體,0.1毫米鉛當(dāng)量分辨率測(cè)試卡,實(shí)時(shí)焦點(diǎn)測(cè)量?jī)x,
數(shù)字影像綜合測(cè)試卡,衰減模體,透射式黑白密度計(jì)。
備注：可根據(jù)自己的實(shí)際要求選配。包含：CR/DR性能檢測(cè)模體（可選），低對(duì)比度分辨力模體,0.1毫米鉛當(dāng)量分辨率測(cè)試卡,實(shí)時(shí)焦點(diǎn)測(cè)量?jī)x,
數(shù)字影像綜合測(cè)試卡,衰減模體,透射式黑白密度計(jì)。
備注：可根據(jù)自己的實(shí)際要求選配。包含：CR/DR性能檢測(cè)模體（可選），低對(duì)比度分辨力模體,0.1毫米鉛當(dāng)量分辨率測(cè)試卡,實(shí)時(shí)焦點(diǎn)測(cè)量?jī)x,
數(shù)字影像綜合測(cè)試卡,衰減模體,透射式黑白密度計(jì)。
備注：可根據(jù)自己的實(shí)際要求選配。包含：CR/DR性能檢測(cè)模體（可選），低對(duì)比度分辨力模體,0.1毫米鉛當(dāng)量分辨率測(cè)試卡,實(shí)時(shí)焦點(diǎn)測(cè)量?jī)x,
數(shù)字影像綜合測(cè)試卡,衰減模體,透射式黑白密度計(jì)。
備注：可根據(jù)自己的實(shí)際要求選配。